半导体测试设备

TH511

CissCossCrssRg,点测、列表扫描,C-V图形扫描(选配),测试频率:1kHz-2MHzVGS0- ±40VVDS0-±200V,双通道,可选配4/6通道

TH512

CissCossCrssRg,点测、列表扫描,C-V图形扫描(选配),测试频率:1kHz-2MHzVGS0- ±40VVDS0-±1500V,双通道,可选配4/6通道

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产品简介
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