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C测试仪

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产品名称: C测试仪
产品型号: 3504-40
产品展商: 日本日置HIOKI
产品文档: 无相关文档

简单介绍

精巧,5ms快速测量LCR


C测试仪  的详细介绍

封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等

● 高速测量2ms
● 能根据C 和D (损耗系数*2)的测量值,进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线,比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具,实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误,提高成品率

输入用探头/测试夹具,实体不附带。按照测量目的,不同型号有不同的探头/测试夹具选件


测量参数

Cs,Cp(电容),D(损耗系数tanδ

测量范围

C:0.9400pF20.0000mF
D:0.000011.99000

基本精度

(代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
测定精度= 基本精度× B× C× D× E, BE为各系数

测量频率

120Hz, 1kHz

测量信号电平

恒压模式: 100mV (only 3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:
170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV:
170μF 量程 (测量频率 1kHz), 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V:
70μF 量程 (测量频率 1kHz), 700μF 量程 (测量频率 120Hz)

输出电阻

CV测量范围以外的开路端子电压模式时)

显示

发光二级管 6位表示,满量程计算器根据量程而定)

测量时间

典型值: 2.0 ms 1 kHz, FAST
测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同

功能

BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O), RS-232C接口(标配), GP-IB接口(3504-40除外)

电源

AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, *大110VA

体积及重量

260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg

附件

电源线×1,预备电源保险丝×1,使用说明书×1

 



苏州德计仪器仪表有限公司

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传真:0512-68566540

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