C测试仪
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产品名称: C测试仪
产品型号: 3504-50
产品展商: 日本日置HIOKI
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简单介绍
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
C测试仪
的详细介绍
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
● 高速测量2ms
● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断
● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能
● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试
● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试
● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
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测量参数
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Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
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测量范围
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C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
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基本精度
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（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数
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测量频率
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120Hz, 1kHz
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测量信号电平
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恒压模式: 100mV ( only 3504-60)， 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
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输出电阻
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5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）
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显示
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发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）
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测量时间
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典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
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功能
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BIN分类测量 (3504-40除外), 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值的比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 控制用输出输入 (EXT. I/O),
RS-232C接口（标配), GP-IB接口(3504-40除外)
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电源
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AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, *大110VA
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体积及重量
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260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
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附件
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电源线×1，预备电源保险丝×1，使用说明书×1
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苏州德计仪器仪表有限公司
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