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攻克高共模电压

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产品名称: 攻克高共模电压
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产品展商: 德计应用方案
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简单介绍

浮动差分测量(例如,高边 Vgs)非常困难或难以实现,因为频率高(快速开、关)以及示波器探头在高带宽下的共模抑制不够而导致共模电压高(例如 Vds)。 共模抑制差导致测量受到共模错误而非实际差分信号的控制


攻克高共模电压  的详细介绍

浮动差分测量(例如,高边 Vgs)非常困难或难以实现,因为频率高(快速开、关)以及示波器探头在高带宽下的共模抑制不够而导致共模电压高(例如 Vds)。 共模抑制差导致测量受到共模错误而非实际差分信号的控制。

泰克提供隔离探头 (ISOVu) 的唯壹解决方案不削弱满足 GaN 和 SiC 设备的工作要求的频率,供您准确进行差分测量。 这样,您可以准确计算并证明导通损耗、停滞时间损耗和开关损耗。 此外,如果您没有使用集成门电路驱动器,通过进行浮动差分测量的功能,您可以准确测量和控制开、关设备时的停止时间。 您现在也可以避免过度估计在硬开时产生的瞬态电压 (dv/dt) 和电流导致的功率转换器的高频辐射。


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