满足您的所有生产测试需求，在同一空间内有两条完全隔离的宽动态源和测量通道。 每条 40 W 通道提供 6½ 位**分辨率源，在小于 100 µs 脉冲宽度和设定值的 0.1% 范围内，测量 10 A 到 0.1 fA 和 200 V 到 100 nV。
测试脚本处理器 (TSP®) 技术可在 SMU 仪器内嵌入和执行完整测试程序，提供业界*佳性能。
特点
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消除与 PC 之间耗时的总线通信
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**数据处理和流量控制
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通用型探头/处理程序控制
TSP-Link® 技术支持扩展多达 64 条通道，支持高速、SMU-per-pin 并行测试（而不使用主机）。 <500 ns 时所有通道同时独立受控。
特点
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支持 <500 ns 通道间同步
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可达 32 条或 64 条独立 SMU 通道
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随着测试要求变化轻松重新配置